【摘 要】
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随着GOA(Gate Driver on Array)技术在设计和工艺方面的不断完善,其在TFT-LCD显示器上的应用也越来越普及,但由于TFT器件自身的稳定性以及工艺的良率问题,目前还存在着一定的局限性.本论文对GOA产品在信赖性评价中出现的进行性异常显示(Abnormal Display,简称AD)不良的发生机理及改善方案进行了深入的剖析.实验证明在长期信赖性测试(高温高湿环境)中,GOA单元
【机 构】
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北京京东方显示技术有限公司 北京经济技术开发区经海一路118号,100176
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随着GOA(Gate Driver on Array)技术在设计和工艺方面的不断完善,其在TFT-LCD显示器上的应用也越来越普及,但由于TFT器件自身的稳定性以及工艺的良率问题,目前还存在着一定的局限性.本论文对GOA产品在信赖性评价中出现的进行性异常显示(Abnormal Display,简称AD)不良的发生机理及改善方案进行了深入的剖析.实验证明在长期信赖性测试(高温高湿环境)中,GOA单元表面的部分过孔ITO会发生劣化,该劣化属电化学腐蚀,当过孔工艺中存在倒角或台阶时,ITO的劣化会首先发生在边缘处,极易形成AD不良.
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