【摘 要】
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JEM-2010型透射电镜是日本电子株式会社(简称日本电子)90年代推出的高压高分辨通用型透射电子显微镜,主要用于观察固态物质显微形貌,分析晶体结构,检测微小物质的形貌和尺寸.
【机 构】
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中国科学院固体物理所材料物理重点实验室,安徽合肥230031
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JEM-2010型透射电镜是日本电子株式会社(简称日本电子)90年代推出的高压高分辨通用型透射电子显微镜,主要用于观察固态物质显微形貌,分析晶体结构,检测微小物质的形貌和尺寸.本文主要针对作者单位早期引进的JEM-2010型透射电镜,在图像采集、处理及元素分析等方面存在的不足,以及原设备配置无法满足不断增长的测试需求,提出设备改进方案,升级透射电镜图像采集系统，开发电镜设备中能谱仪面、线元素分布分析功能，添置电镜样品进样装置，挖掘设备潜力,使设备功能得到充分扩展,更好地为科研服务.
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