水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响

来源 :绝缘材料 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xuelun2003
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用溶胶-凝胶法合成了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO2)纳米杂化薄膜,并采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)和扫描电子显微镜(SEM)分析水含量对PI/SiO2杂化薄膜的化学结构和微观结构的影响。结果表明:水含量对PI/SiO2微观结构影响很大。当SiO2与水含量摩尔比为1∶6时,SiO2能均匀分散在PI基质中,团聚的SiO2粒径均小于20 nm。当SiO2与水含量摩尔比为1∶8时,部分团聚的SiO2粒径超过100 nm。
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