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@@随着纳米科技的发展，人们对纳米粒子的粒径关注度越来越高，因为粒子粒径的大小会直接影响到粒子的分散和排布，并影响到后续实用性部件的性能。目前现有的纳米粒子粒径表征手段，主要是动态光散射(DLS)的方法。DLS方法的标称测定下限一般是l纳米左右，标称上限可以到几个微米。从实际测定结果来看，并非如此，1个纳米左右的粒子信号非常凌乱，大粒子的信号会将小粒子的信号淹没，从而造成宽分布粒子或者混合粒子的测定结果存在失真。另外，DLS方法得到的结果往往和电镜得到的结果不吻合。