【摘 要】
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为了解决硅铁中低含量铅的测定困难.研究了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定硅铁中铅谱线选择、基体干扰、样品处理对测定结果的影响.确定了368.349 nm作为
【机 构】
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Hubei Beauty Science & Technology Co. , LTD, Jingmen 431899, China
【出 处】
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2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
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为了解决硅铁中低含量铅的测定困难.研究了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定硅铁中铅谱线选择、基体干扰、样品处理对测定结果的影响.确定了368.349 nm作为铅的分析线,在此波长下,硅铁中铁的背景影响采用基体匹配办法克服.研究结果表明：以硝酸、氢氟酸溶解样品,在硝酸介质中,以368.349 nm作为铅的分析线,铅的检出限为0.4 mg/L,相对标准偏差为2.84％,回收率93％～101％.此方法已用于硅铁中铅的日常测定.
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