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将一定粒度的粉末试样压制成片状试料后,用VXQ-150A X射线荧光光谱仪进行测试分析,在真空介质中,试片经激发源产生X射线的X光管照射后,发射出组成元素的特征谱线,分光晶体按照布拉格衍射定律将这些特征谱线分解成所需要的分析线,分析线的积分强度与含量成正比,计算机的微处理单元将探测器探测到的分析线积分强度做数据处理,打印机自动打出百分含量并显示在屏幕上。