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提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案，它是在基于折叠计数器的基础上，采用LFSR编码折叠计数器种子，并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取，从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成．本方案不仅实现了测试数据的压缩，而且成功避开了冗余的无用向量，以达到减少大量的测试时间的目的．实验结果证明，建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率，而且能够非常有效地减少测试应用时间．