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透射电镜中Si纳米线单轴拉伸应变下的电学性能研究
【机 构】
:
北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124;浙江大学材料系,浙江杭州310027
【出 处】
:
2012年全国电子显微学学术会议
【发表日期】
:
2012年9期
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