高频磁芯损耗的自动测试技术研究

来源 :第五届全国电子技术应用大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yangweifeng111222
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该文介绍了一种用有效值方法测量磁芯损耗的自动测试系统,最高频率为1MHz,测试条件符合国际标准IEC367-1及有关文件的规定。文中阐述了测试方法、系统结构,并给出了实验结果。
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