研究发现在IEC61215标准200次冷热循环老化测试(TC200,-40℃至85℃200次温度循环)后出现较多的电池断栅(太阳电池副栅断裂)现象,断栅部分导致太阳电池在光照情况下无法收集到电流,较多断栅将意味着引起组件输出功率一定程度的衰减.通过研究不同的印刷方式、不同主栅浆料、是否焊接互联条、冷热循环次数等因素对断栅的影响,分析印刷后断栅形成的原因,以及TC200后断栅增加的原因.发现在TC200后新增断栅主要和互联条焊接有关,未焊接互联条的电池片基本没有新增断栅,通过显微镜观察断栅处形貌,并进行统计分析新增断栅形成原因,结果表明,首先互联条焊接不当会引起副栅爬锡、互联条焊接偏移,爬锡和焊带偏移都意味着在副栅上的金属层变厚,由于材料间不同的热膨胀系数,TC200试验时温度发生大幅度变化,导致副栅金属层和硅界面间的应力随金属层厚度增加而增加,发生断栅的可能性也随之增加;其次主栅焊接收尾处在TC200后更容易出现断栅,因为焊接终点更容易发生焊接偏移和焊锡堆积;最后背电极对应的正面副栅线位置出现断栅的比重最大,说明焊接背电极残留应力对断栅的影响比较显著.论文最后对此问题提出了解决方案,从而进一步提高产品质量和长期可靠性.