离子束溅射法生长Ge/Si单量子点的电学性质研究

来源 :中国物理学会2015年秋季会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:iqwin
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  利用传统、简易的离子束溅射技术,在不同Si单晶衬底温度条件(650,700和750℃)下,自组织生长了一系列Ge/Si量子点材料。分别利用原子力显微的轻敲和导电接触模式,我们研究了Ge量子点的表面形貌、电流分布以及单量子点的电学性质。
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