红外光在绝缘材料厚度检测中的应用

来源 :全国第十五届红外加热暨红外医学发展研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sznzhu
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为解决超薄绝缘材料的厚度检测,使用波长为1410nm的红外光对其进行穿透性检测,检测结果表明,该波段的红外光能够被绝缘材料部分吸收并具备良好的厚度表征能力,检测结果准确可。
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