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面阵ＣＣＤ摄像机因其分辨率低，较少用于工件几何尺寸的非接触测量中，而很多情况下要求测量出工件沿某一方向不同切面的尺寸。本文采用细分处理的方法提高了光敏元位数较低的面阵ＣＣＤ的测量分辨率。文中着重讨论了工件边缘点的提取和面阵ＣＣＤ信号的细分方法。
提高面阵ＣＣＤ摄像机尺寸测量分辨率的方法
【摘 要】
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面阵ＣＣＤ摄像机因其分辨率低，较少用于工件几何尺寸的非接触测量中，而很多情况下要求测量出工件沿某一方向不同切面的尺寸。本文采用细分处理的方法提高了光敏元位数较低的面阵ＣＣＤ的测
【机 构】
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重庆大学光电精密机械研究所
【出 处】
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第五届全国光电技术及系统学术会议
【发表日期】
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1993年期
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