用高分辨工业X-CT检测陶瓷样品

来源 :第十一届全国高技术陶瓷学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liuxc1112
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清华大学核能技术设计研究院自80年代中开始到80年代中的十年来建立了三个微焦点X-CT系统。该文介绍了采用闪烁体-光电二极管陈列高分辨探测器CT系统硬件结构和图像重建中的“折线近似法”技术。给出了用该系统检测若干陶瓷样品的结果。
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