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X射线荧光分析中，物质成分变化对检测结果会产生影响，多数情况下元素浓度含量和荧光强度间两者不成线性关系。针对不同浓度的Zr、基体为U(强吸收体)和H、O等非金属(弱吸收体)的多元混合样品，采用MCNP模拟了铀锆混合物及锆氧混合物的荧光强度-元素浓度关系，结果表明所获得的模拟校正曲线与理论计算结果吻合较好，为下一步用于实际X荧光测量中基体校正奠定基础。