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该文研究了[001］Cu-16atA1单晶在不同应变幅下的循环形变行为，结果表明，具有平面滑移的[001]Cu-16atAl单晶的疲劳行为明显不同于波状滑移的[001］Cu单晶。在相同应变幅下，它的硬化率很小，初始切应力水平比[001］Cu单晶高，但最终循环应力远低于[001］Cu单晶；存在应变突发，应变突发的同时伴随有新的滑移带产主，在Y P=1．1×1O -4～4.2×l0 -4下，局部存在未形变区，在更高应变幅下，滑移带均布整个标距范围。