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为了解决电子学系统中涂层面密度、厚度等性能参数的快速、可靠检测,利用塞多利斯LA4200S电子天平、涂层厚度测量仪等程控仪器,根据屏蔽件涂层检测工艺流程特点分别设计开发检测计划管理模块、数据库管理模块、检测数据报告单模板、应用程序数据交换接口控制模块和仪器接口通讯控制模块,通过几大功能模块的有机结合,实现了系统检测数据的自动采集、涂层厚度/面密度的自动计算、质量报告单自动产生和喷涂层质量合格性自动判断等功能,大大提高了检测效率.本文着重叙述了系统各个功能模块的设计方案.