弯曲损耗不敏感光纤(G657)广泛应用于FTTH(光纤入户)和接入网网络改造,由于其弯曲损耗不敏感的特性,在传统打圈的测试方法上很难滤除高阶模,造成测试数据偏小.同时,IEC60793-1-45:2011己将用后向散射法测试模场直径作为标准方法的替代方法之一,因此本文将主要介绍用后向散射法测试G.657光纤的模场直径,并与传统方法进行比对, 同时对该方法能否有效滤除高阶模进行探讨.在实际使用过程中，发现用后向散射法测试弯曲损耗不敏感光纤的模场直径与传统22米样品的可变孔径法具有很好的一致性，这种方法能够对传统的方法进行补充。特别是要指出的是，该方法能够一定程度上消除高阶模带来的影响，也从某种意义上解决了弯曲损耗光纤模场直径在1310nm下测试的难题。同时，双波长下的模场直径还可以进一步转化为截止波长。因此，使用单一的光时域反射仪(OTDR)就可以实现弯曲损耗不敏感光纤重要特性参数的测试，这无疑给光纤光缆厂家提供一种低成本、经济高效的测试手段。