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本文比较了三种广泛应用于存储器的32-bitSEC-DED编码的性能和纠错能力,并根据电路,在以上编码的思想的基础上,提出了一种在编码延迟和多比特错误发现率上有明显优势的编码,Fast;同时对硬件实现的主要开销进行了评估.
嵌入式高集成度DRAM ECC电路纠错码的选择及性能评估
【摘 要】
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本文比较了三种广泛应用于存储器的32-bitSEC-DED编码的性能和纠错能力,并根据电路,在以上编码的思想的基础上,提出了一种在编码延迟和多比特错误发现率上有明显优势的编码,F
【机 构】
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清华大学微电子所,北京,100084
【出 处】
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第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会
【发表日期】
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2005年期
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