Flash存储器测试与修复方法概述

来源 :第五届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sea0075
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Flash存储器作为一种非易失性存储器,由于其特有的低功耗、存储密度大等特性被广泛应用于各种便携式电子设备中.由于深亚微米工艺的不确定性,Flash存储器在生产过程中存在各种缺陷,从而导致存储器失效,成品率降低。如何有效地检测各种缺陷引起的故障,提高存储器成品率和可靠性是学术界和业界共同关注的问题。本文通过介绍Flash存储器特有的故障类型,简要阐述了Flash存储器的测试流程和测试算法,并简单描述了修复Flash存储器修复方法所面临的问题,如修复时需要考虑的冗余结构设置和冗余分配方法受到的约束等。
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