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随着集成电路规模的不断增大，芯片的可测性设计正变得越来越重要。本文介绍了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构，并给出了边界扫描技术的在芯片测试中的应用范围，最后结合自动测试设备，提出了边界扫描技术用于芯片测试的方法。
边界扫描技术及其在芯片测试中的应用
【摘 要】
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随着集成电路规模的不断增大，芯片的可测性设计正变得越来越重要。本文介绍了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构，并给出了边界扫描技术的在芯片测试中的应用范围，最
【机 构】
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中国工程物理研究院电子工程研究所 四川 绵阳 621900
【出 处】
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四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十五届学术年会
【发表日期】
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2011年期
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