壁画复制中几何控制点的测定

来源 :测绘科技动态 | 被引量 : 0次 | 上传用户：txzhang50

【摘要】

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ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清华大学发明人:隋森芳文摘:本发明属于生物技

【作者】

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杜宗甫陈锐志张莉

【出处】

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测绘科技动态

【发表日期】

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2004年期

【关键词】

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点位精度复制过程壁画艺术后方交会测站点天顶距控制点几何控制平差结果精度分析点位误差指标差

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ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清华大学发明人:隋森芳文摘:本发明属于生物技术领域,包括主机、控制电路和计算机三部分组成,主机包括由棱镜。敏感膜敏感芯片、半导 Ue*M#

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