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介绍了一种康普顿散射法测量高强度直流X射线能谱的方法，分析了X光机辐射谱与散射谱强度的关系表达式。在测量系统中使用能量分辨能力较好的高纯锗探测器，通过测量x光机照射低原子序数材料的散射能谱，再根据不同能量X射线在该散射立体角上的散射截面回推，从而获得X光机的辐射能谱。最后，给出了X光机的工作电压分别为15、80和100kV时，散射法测量得到的钨靶X射线辐射谱。