半导体无损检测仪器

来源 :计量与测试技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hathawayccc
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我国唯一能对半日导体器件实现无损检测的仪器——光调制反射显微镜,由南京大学信息物理系专家研制成功,目前,我国半导体器件检测,是将半导体集成电路板上的所有元件折下来,把扳上铝箔之类的焊接材料溶解,这样,检测后的电路板就被损坏了。现在用光调制反射显微镜,
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