本文介绍了基于DDS和MCU，适用于实验教学的数字频率特性测试仪的设计与实现方法，详细叙述了该仪器中扫频信号源以及幅频特性测试部分的硬件设计和软件设计。本系统中，扫频信号源采用直接数字频率特性合成（DDS）芯片AD9850实现，其输出范围完全满足系统需要，并有多种扫频方式可供选择，扫频起止值也可在规定范围内任意设置。程控衰减部分采用数模转换芯片DAC0832与模拟乘法器AD835以及固定衰减网络配合工作的方法，实现对信号源幅度0～-60dB范围内，步进值1dB的衰减。幅频特性测试部分主要采用RF/IF幅度和相位测量芯片AD8302，配合可控增益/衰减、A/D转换等可准确测量出被测网络的幅频特性。以MCU为核心，控制整个系统的协调工作并对所测数据进行处理，兼顾成本与性能要求，MCU芯片采用AT89C52。　　 本设计对主要部分进行了测试，并对实验结果进行了分析，其性能满足预期的要求。本系统基本达到了数字化，有利于缩小仪器的体积，减轻重量，降低成本。